Bruker Dektak XT台阶仪的特点_苏州苏童半导体有限公司

Bruker Dektak XT台阶仪的特点

苏州苏童半导体有限公司 2022-06-29 16:02:40 作者:SystemMaster

1. 高度方向采用先进的LVDT线性位移传感器，该传感器因其结构为无接触式，使其具有无摩擦、无磨损等特点。

2. 台阶高度重现性小于4Å。

3. 垂直分辨率高达1 Å。

4. 标配探针更换工具，保证探针更换安全快捷。

5. 标配薄膜应力测试功能。

6. 精简的Vision64 软件系统，结合智能结构，具备可视化工作流程及各种自助设定功能，以满足用户快速并全面进行数据收集和分析。

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