四个小时 入门原子力显微镜测试
苏州苏童半导体有限公司 2021-09-30 15:39:26 作者:SystemMaster
第一讲 AFM 的基础知识及工作原理
1.1 认识微观世界的重要工具——显微镜
1.2 AFM 的发展历史
1.3 AFM 成像的基本原理
1.4 AFM 的仪器组成
1.5 AFM 成像的应用及示例
1.6 AFM 的优势与不足
第二讲 AFM 针尖基础及 AFM 工作模式
2.1 AFM 针尖基础
2.1.1 探针与样品间的作用力
2.1.2 针尖类型及选择
2.2 AFM 工作模式简介
2.3 几种成像模式的原理及优缺点
2.3.1 Contact 模式
2.3.2 Tapping 模式
2.3.3 Peak-force 模式等
第三讲 AFM 其它应用简介及 AFM 样品的制备
3.1 AFM 其它应用简介
3.1.1 力学性能测量
3.1.2 电学性能测量
3.1.3 磁学性能测量
3.2 AFM 样品的制备
3.2.1 纳米粉体材料
3.2.2 块体材料
3.2.3 分子
3.2.4 细胞
3.3 AFM 数据处理及分析
第四讲 AFM 数据处理分析及常见图像假象
4.1 AFM 数据处理分析
4.2 AFM 常见图像假象
4.2.1 针尖因素
4.2.2 样品因素
4.2.3 扫描参数因素
