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多种测试设备

聚焦离子束双束电镜系统--FIB-SEM

仪器型号

Helios 5 CX DualBeam

供应产商

美国Thermo-Scientific

应用工况

半导体材料缺陷表征、器件失效分析和微纳结构设计


冷场发射扫描电子显微镜--SEM

仪器型号

Regulus8100和SU8600

供应产商

Hitachi

应用工况

半导体、MEMS器件、生物、材料、能源、金属、陶瓷等各类样品的微观形貌测试和微区元素分析


离子束抛光--CP

仪器型号

 IM4000PLUSⅡ和E-3500离子研磨

供应产商

Hitachi

应用工况

扫描电镜观察(SEM)和表面分析(EDX,EBSP等)的前处理


傅立叶变换显微红外光谱仪-FT-IR

仪器型号

Nicolet iN10和Nicolet iS50FT-IR

供应产商

美国Thermo-Scientific

应用工况

污染物鉴别,失效分析,竞争分析,过程支持


共聚焦拉曼光谱仪-532nm

仪器型号

共聚焦拉曼光谱仪

供应产商

苏州惟光探真科技有限公司

应用工况

半导体、材料、新能源、刑侦、食品等领域样品中组分、应力、晶化率等物理性质的分布

K-Alpha X 射线光电子能谱仪(XPS)系统

仪器型号

K-Alpha X 射线光电子能谱仪(XPS)系统

供应产商

美国Thermo-Scientific

应用工况

超导、拓扑绝缘体、化合物半导体、半导体、催化、生物,材料等领域材料表面元素组成分析





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